ZEPREN光譜分析儀BOSA 技術參數

Zepren Solutions 生產先進、用途廣泛的高分辨率光譜分析儀 BOSA。得益于我們 的光學濾波和全無雜散動態范圍，BOSA 可實現可靠的測量，避免測量中的偽影和不良影響。
得益于我們在研發方面的堅定承諾，Zepren Solutions 為我們的BOSA提供了不同的選項，包括帶或不帶內部可調激光源 (TLS)、分析無源元件的能力、偏振測量，甚至測量相位的模式。總之，一套完整的選項使高分辨率光譜分析儀成為 的東西。覆蓋范圍包括 O、S、C 和 L 波段。
性能特點
高分辨率 (10 MHz / 0.08 pm) 和純光學窄帶濾波器。
動態范圍大 (>80 dB)，無偽影。
可靠性高。
 的光譜分辨偏振測量。
光相位光譜測量：啁啾測量、眼圖、星座圖……
集成可調激光器和元件。
技術參數
產地：西班牙
波長范圍
C波段：1525-1565 nm
C+L波段：1525-1610 nm
O波段：1265-1345 nm
S和T波段可根據要求提供
光學分辨率（FWHM）：10 MHz
校準功率范圍：+13至-70 dBm
安全總輸入功率max.：+20 dBm
掃描時間：20 nm/s
波長參考：線性化+abs.參考
無雜散動態范圍：>80 dB
靈敏度（@10 MHz）：-70 dBm
功率精度：±0.5 dB
波長精度：±0.5 pm（C，C+L）；±1.0 pm（O）
工作溫度：+15 °C至+35 °C
電源要求：110/220V; 50/60Hz，max.200W
尺寸：430x230x470 mm
重量：max.18Kg
光學連接：FC/APC
其他要求：可用接口以太網、USB、GPIB